お知らせ+活動記録+たわごと

HP と Twitter を補完するとともに、互いの密接な連携を図るため、本ブログを開設した。三位一体を目指す。情報提供、広報活動、教育・啓蒙活動の一環として、肩の力を抜き、冗長性を廃し、簡にして要を得た文章を書くよう心がける。
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「粉末X線解析の実際」第2版の訂正情報
このほど「粉末X線解析の実際」第2版(朝倉書店)中に数カ所のミスが見つかったので、ここに訂正を掲示し注意を喚起したい。

口絵3と口絵4のキャプションが入れ替わっている。

p. 29、式(2.7)は次のように訂正する:



表14.2 (p. 255) と 表14.3 (p. 256) における Cu Kα1 の波長に関する論文の著者は

G. Hölzer, M. Fritsch, M. Deutsch, J. Härtwig, and E. Förster

が正しい。

第2刷以降の表14.2と表14.3において、NIST の角度標準 Si 試料の名前と標準格子定数の記述が誤っていた。そこでこの際、両表中の標準試料を現在販売中の NIST SRM 640e に更新することにした。22.5 ℃ における NIST SRM 640e の標準格子定数は

5.431 196 Å ± 0.000 08 Å

である。

編著者の一人として、読者の方々にお詫びする。
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